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上等的顯微觀察 便捷的顯微操作


采用模塊化設計的BX3M系列具備適用多種材料科學和工業應用的多功能性。通過與奧林巴斯Stream軟件更加出色的集成,BX53M為標準顯微鏡和數字成像用戶提供了從觀察到報告創建的無縫工作流程。



選擇合適的型號


六種BX53M推薦配置讓您獲得選擇所需功能的靈活性。
· 通用:入門,標準,上等
· 專用:熒光,紅外,偏振
· 多種配置滿足用戶需求
· 模塊化設計,按自己的方式打造您的系統


舒適且使用方便


BX53M利用精心設計且易于使用的控件讓復雜顯微鏡檢查任務得到簡化。用戶無需進行深入培訓即可充分使用顯微鏡功能。

BX53M簡單、舒適的操作還可通過*大限度減少人為錯誤提高可重復性。


· 簡易照明器
· 直觀的顯微鏡控制
· 快速發現焦點
· 均勻一致的照明
· 簡便且符合人體工學的操作
· 輕松恢復顯微鏡設置
· 基本測量功

 

 



                                     功能


BX53M保留了諸如明場、暗場、偏光和微分干涉等常規顯微鏡的傳統對比方法。隨著新材料的開發,與使用標準對比法檢測缺陷相關的許多難題均可

通過先進顯微鏡技術解決,從而可以實現更加準確和可靠的檢查。全新照明技術以及奧林巴斯Stream圖像分析軟件的圖像采集選項為用戶評估樣品和存檔檢測結果提供更多選擇。


· 讓看不見的變得可見
· 創建全焦點圖像
· 輕松移動全景載物臺
· 亮區和暗區均可采集
· 可根據觀察和分析偏好進行調整
· 可適用于各種樣品



先進光學器件


奧林巴斯開發高品質光學器件的悠久歷史令其打造了久經驗證的光學品質以及具有出色測量精度的顯微鏡。

· 出色的光學性能
· 穩定的色溫和高強度白光LED照明
· 支持**測量
· 無縫拼接


波前像差控制



高度可靠的模塊化系統理念
從未如此簡單

六種BX53M推薦配置讓您獲得選擇所需功能的靈活

通用


專用
條目


基本功能輕松設置


標準
易于使用
多功能升級

上等

支持諸多上等功能
熒光
非常適合
熒光觀察

紅外


設計利用紅外觀察檢查集成電路


專為觀察雙折射特性而設計






LCD彩色濾光片


(透射/ BF)


鐵素體組織
晶粒
(反射/ DF)

線圈銅線


(BF + DF/MIX)

IC圖案上的光刻膠


(FL + DF/MIX)

硅層疊IC圖案


(紅外線)

石棉


(POL)






觀察方法
R-BF:明場(反射)
T-BF:明場(反射/透射)
DF:暗場
DIC:微分干涉/簡易偏光
MIX:MIX
FL:熒光
IR:紅外線
POL:極化


從不可見到可見:

MIX觀察


BX53M的MIX觀察技術將傳統照明方法與暗場照明相結合。使用MIX-插片時,其環形LED以定向暗場的方式照射樣品。

其效果與傳統暗場類似,但卻能夠通過選擇LED象限引導光從不同角度照射。

這種定向暗場和明場、熒光或偏光的組合被稱為MIX照明,其特別有助于突出缺陷并區分凸起表面與凹陷部位。






                 

采集明亮區域和暗光區域:HDR


采用先進圖像處理技術的高動態范圍(HDR)可在圖像內調整亮度差異,從而減少眩光。

HDR改善了數字圖像的視覺品質,從而有助于生成具有專業級外觀的報告。


 

硬幣的即時MIA圖像

輕松移動載物臺獲得全景圖像:即時圖像拼接(MIA)


利用即時多圖像拼接(MIA)功能,現在只需移動手動載物臺上的XY旋鈕即可快捷拼接圖像;

無需使用電動載物臺。奧林巴斯Stream軟件可利用模式識別生成全景圖像,讓用戶獲得比單視野更寬的視場。




多種測量能力

常規或基本測量功能


奧林巴斯Stream的各種測量功能可以讓用戶輕松從圖像中獲取有用數據。在進行質量控制和檢查時,通常需要在圖像上使用測量功能。


所有級別的奧林巴斯Stream許可證均包含諸如距離、角度、矩形、圓形、橢圓形和多邊形等交互式測量功能。所有測量結果均可與圖

像文件一同保存,以便后續存檔。





計數和測量


目標檢測和尺寸分布測量是數字成像*重要的應用。奧林巴斯Stream軟件配備采用閾值方法的探測引擎,能夠可靠分離目標(比如顆粒、劃痕)與背景。


材料科學解決方案


奧林巴斯Stream采用適合復雜圖像分析的面向工作流型直觀界面。只需單擊一個按鈕,即可按照*常見的行業標準快速、準確地進行*復雜圖像的分析任務。在大幅度縮減重復性任務處理時間的情況下,材料科學家可以將精力集中在分析和研究上。夾雜物和截點圖的模塊化加載項可隨時輕松執行。




3D表面視圖(粗糙度測試樣品)                                         單視圖和3D輪廓測量


3D樣品測量


使用外部電動對焦時,可以快速捕獲EFI圖像并以3D形式顯示。所采集的高度數據可用于對輪廓或單視圖圖像進行3D測量。



查看更多樣品類型和尺寸

新型150×100 毫米載物臺在X方向上的行程比以前的型號更長。結合平頂式設計,大尺寸樣品或多個樣品均可輕松放置在載物臺上。載物臺板上設有用于固定樣品架的螺孔。更大尺寸的載物臺讓用戶能夠在一臺顯微鏡上檢查更多樣品,由此獲得的靈活性讓其節省了寶貴的實驗室空間。載物臺的可調扭矩便于在窄視場高倍率條件下進行精細定位。

樣品高度和重量的靈活性


選配模塊單元可將*大105毫米的樣品安裝在載物臺上。由于采用改進型聚焦機構,顯微鏡可容納多達6公斤的總重量(樣品+樣品臺)。這意味著可以在BX53M上檢查尺寸更大、更重的樣品,讓實驗室需要配備的顯微鏡更少。通過將6英寸晶片使用的可旋轉支架技巧性固定在偏心位置,用戶移動100毫米行程時只需旋轉支架即可觀察整個晶片表面。經過優化的載物臺扭矩調節使用非常方便,舒適的手柄讓您能夠輕松找到樣品的目標區域。




樣品尺寸的靈活性


當樣品由于過大而難以放在傳統顯微鏡載物臺上時,反射光顯微鏡的核心光學組件可以采用模塊化方式配置。這種模塊化系統(BXFM)可以通過立桿安裝到更大的支架上,也可使用安裝支架安裝到其他選定的儀器上。即使用戶的樣品尺寸或形狀非常特別,也能夠使用奧林巴斯久負盛名的光學器件。



保護電子元器件免受靜電釋放損害:ESD兼容
BX53M具備ESD耗散能力,可保護電子設備免受人為或環境因素導致的靜電問題。






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